Pressemitteilung/press release
TechnoLab mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur
… Komponenten und Materialien. Im Fokus standen mikroskopische Untersuchungen, die anhand eines Mikroskops Typ Leica DM2700 vor Ort an Stand …
22. Juni 2018